一、探測(cè)器

探測(cè)器是光纖光譜儀的最核心部分，直接決定了光纖光譜儀的光譜覆蓋范圍、靈敏度、分辨率及信噪比等指標(biāo)。一般來說，探測(cè)器的材料決定了其光譜覆蓋范圍，硅基檢測(cè)器其波長(zhǎng)覆蓋范圍一般為190-1100nm，而InGaAs和PbS檢測(cè)器覆蓋900-2900nm的波長(zhǎng)范圍。而探測(cè)器的工作原理、制造方法及摻雜材料決定了其靈敏度、覆蓋范圍和信噪比等指標(biāo)。

 

二、衍射光柵

衍射光柵將從狹縫入射的光在空間上進(jìn)行色散，使其光強(qiáng)度成為波長(zhǎng)的函數(shù)。它是光纖光譜儀進(jìn)行分光檢測(cè)的基礎(chǔ)，是光纖光譜儀的核心部分。對(duì)于一個(gè)給定的光學(xué)平臺(tái)和陣列式檢測(cè)器，我們可以通過選擇不同的衍射光柵來對(duì)光纖光譜儀的光譜覆蓋范圍，光譜分辨率和雜散光水平進(jìn)行額外的控制。

 

三、入射狹縫

入射狹縫直接影響光纖光譜儀的分辨率和光通量。光纖光譜儀的檢測(cè)器最終檢測(cè)到的是狹縫投射到檢測(cè)器上的像，因此狹縫的大小直接影響到光纖光譜儀的分辨率，狹縫越小，分辨率越高，狹縫越大，分辨率越低；另外狹縫是光進(jìn)入光纖光譜儀的門戶，其大小也直接影響到光纖光譜儀的光通量。狹縫越大，光通量越大，狹縫越小，光通量越小。